1. 冷熱衝撃試験機(加湿度機能つき)導入
信頼性評価メニューが充実！

新規に温度制御性に優れる冷熱衝撃機（加湿機能つき）を導入いたしました。
各種の環境加速試験機が益々充実いたしましたので、オーバーフロー時、
電気特性測定などのオプション要望時には是非ご活用ください。

詳しくはPDFでご紹介しております。
ご参照ください。
→ http://www.kobelcokaken.co.jp/note/pdf/20061001/f.pdf
（PDFサイズ308kb）

2. １μm以下の微小領域の定量分析が可能に！

新規に高性能のFE-EPMAを導入いたしました。従来のFE-EPMAでは不可能で
あった、1μm以下の微小領域の定量分析、5万倍の倍率でのマッピング分析が
可能になりました。

詳しくはPDFでご紹介しております。
ご参照ください。
→ http://www.kobelcokaken.co.jp/note/pdf/20061001/e.pdf
（PDFサイズ311kb）

当社ではGaN、InPなどの化合物半導体の深い準位の評価法として、
光ICTS法、TSC法によるサービスを提供しております。

半導体中の深い準位の起源となる欠陥の同定方法として有効な光ICTS法、
TSC法の原理、特徴につき解説いたします。

詳しくはPDFでご紹介しております。
ご参照ください。
→ http://www.kobelcokaken.co.jp/note/pdf/20061001/c.pdf
（PDFサイズ789kb）

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